近日，国际著名期刊《Small》在线发表了我院李岳彬教授团队在柔性X射线探测器领域的最新研究成果—“Thermally Robust 0D Cs₃EuCl₆ Microcrystals for X-Ray Imaging”。其中，我院硕士研究生柴子根为第一作者，我院李岳彬教授、曾敏副教授，化学化工学院彭旭副教授和南京理工大学李晓明教授为通讯作者，威廉希尔中国官网为第一通讯单位。

X射线探测成像技术在医学诊断、工业检测、安全检查及芯片分析等领域具有重要的应用价值。闪烁体屏作为实现高性能X射线间接成像的关键组件，需兼具高稳定性与低探测极限。在众多闪烁体材料中，稀土基卤素化合物半导体因其元素组成和晶体配位环境所形成的独特能带结构，展现出优异的闪烁性能与光电转换特性，因而备受关注。然而，现有金属卤化物闪烁屏多以单晶、油墨或玻璃态形式存在，普遍存在脆性高、成像面积有限和难以集成等问题。

图1. Cs₃EuCl₆@PDMS薄膜闪烁体的X射线成像性能

面向工业不规则曲面成像检测需求的挑战，研究团队开发了一种基于Cs₃EuCl₆零维铕基卤化物微晶的柔性闪烁体。该柔性闪烁体通过低温固相和溶液法制备，光产额可达12877 photons·MeV⁻¹，较传统BGO闪烁体提高约29%；探测极限低至643 nGyair·s⁻¹，仅为医疗诊断所需剂量（5.5 μGyair·s⁻¹）的1/9；空间分辨率达到9.17 lp·mm⁻¹，能够清晰分辨微米级金属弹簧的内部结构。该研究成果为发展高性能柔性X射线探测器和成像分析系统提供了新途径。(审稿人：汪宝元）

论文链接：http://dx.doi.org/10.1002/smll.202505594